Ucebnice.cz Odborná • naučnáTechnické vědyElektronika
Termín obdržení zásilky
Česká pošta Středa 20.08
PPL Středa 20.08
Osobní odběr Čtvrtek 21.08
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Wafer-Level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits

Wafer-Level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits
36 %

2134  Kč 3 342 Kč

Sleva až 70% u třetiny knih
Autor:
Nakladatel: Artech House Publishers
ISBN: 9781596939899
Rok vydání: 2010
Jazyk : Angličtina
Vazba: Microfilm
Počet stran: 213
Mohlo by se vám také líbit..