Quality Rating of Silicon Wafers - A Pattern Recognition Approach.
18
%
1014 Kč 1 231 Kč
Sleva až 70% u třetiny knih
| Autor: | Demant, Matthias |
| Nakladatel: | Fraunhofer Verlag |
| Rok vydání: | 2016 |
| Jazyk : | Angličtina |
| Vazba: | Paperback / softback |
| Počet stran: | 192 |
Mohlo by se vám také líbit..
