Termín obdržení zásilky
Dodací doba je ovlivněna statním svátkem ( 01.05 )
Česká pošta Čtvrtek 02.05
PPL Čtvrtek 02.05
Osobní odběr Pátek 03.05
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics

Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
11 %

4332  Kč 4 874 Kč

Sleva až 70% u třetiny knih
Introduction.- Part I: Application of Ellipsometry Technique.- Analysis of Optical and Recombination Losses in Solar Cells.- Optical Simulation of External Quantum Efficiency Spectra.- Characterization of Textured Structures.- On-line Monitoring of Photovoltaics Production.- Real Time Measurement, Monitoring, and Control of CuIn 1 x Ga x Se 2 by Spectroscopic Ellipsometry.- Real Time and Mapping Spectroscopic Ellipsometry of Hydrogenated Amorphous and Nanocrystalline Si Solar Cells.- Part II: Optical Data of Solar-Cell Component Materials.- Inorganic Semiconductors and Passivation Layers.- Organic Semiconductors.- Organic-Inorganic Hybrid Perovskites.- Transparent Conductive Oxides.- Metals.- Substrates and Coating Layers.
Autor:
Nakladatel: Springer, Berlin
Rok vydání: 2018
Jazyk : Angličtina
Vazba: Hardback
Počet stran: 450
Mohlo by se vám také líbit..