Ucebnice.cz Odborná • naučnáPřírodní vědyFyzika
Termín obdržení zásilky
Česká pošta Čtvrtek 16.05
PPL Čtvrtek 16.05
Osobní odběr Pátek 17.05
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
86 %

489  Kč 3 428 Kč

Odesíláme do 1 až 2 týdnů

Sleva až 70% u třetiny knih
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel- oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso- lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Nakladatel: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN: 9783642729690
Rok vydání: 2011
Jazyk : Angličtina
Vazba: Paperback
Počet stran: 389
Mohlo by se vám také líbit..