Ucebnice.cz Odborná • naučnáPřírodní vědyFyzika
Termín obdržení zásilky
Česká pošta Středa 17.09
PPL Středa 17.09
Osobní odběr Čtvrtek 18.09
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy

Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
21 %

993  Kč 1 250 Kč

Sleva až 70% u třetiny knih
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.
Autor:
Nakladatel: LAP Lambert Academic Publishing
Rok vydání: 2012
Jazyk : Angličtina
Vazba: Paperback / softback
Počet stran: 72
Mohlo by se vám také líbit..