Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
7
%
5367 Kč 5 776 Kč
Sleva až 70% u třetiny knih
| Autor: | Pineda de Gyvez, José |
| Nakladatel: | Springer US |
| ISBN: | 0387465464 |
| Rok vydání: | 2007 |
| Jazyk : | Angličtina |
| Vazba: | pevná |
| Počet stran: | 352 |
Mohlo by se vám také líbit..
