Análise dimensional de sistemas de medição em superfícies livres
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Com a competitividade inerente ao mercado sem fronteiras, a sustentabilidade de uma empresa envolve, necessariamente, ações de garantia da qualidade do produto e do processo de fabricação. Por sua vez, a garantia da qualidade será efetiva se, e somente se, as informações por ela analisadas forem confiáveis e consistentes, papel esse que cabe à Metrologia. No sub-ramo da metrologia dimensional, pode-se dizer que um dos grandes desafios reside na medição de peças fundidas de médio e grande porte, principalmente aquelas caracterizadas pela presença de superfícies livres. A metrologia por coordenadas tradicional, adequada a tantos cenários, não pode ser considerada uma solução ótima para a medição de superfícies livres em peças fundidas de médio e grande porte, principalmente pela falta de portabilidade. Nesse caso, os braços articulados de medição e os sistemas baseados em fotogrametria surgem como opções bastante convidativas. O corpo do presente trabalho envolve exatamente a avaliação metrológica e operacional desses sistemas de medição.
| Autor: | Gonçalves de Lima, Clídio Richardson |
| Nakladatel: | Novas Edicioes Academicas |
| Rok vydání: | 2018 |
| Jazyk : | POR |
| Vazba: | Paperback / softback |
| Počet stran: | 116 |