Ucebnice.cz Odborná • naučnáTechnické vědyPrůmysl
Termín obdržení zásilky
Česká pošta Úterý 25.11
PPL Úterý 25.11
Osobní odběr Středa 26.11
Termíny jsou pouze orientační a mohou se lišit podle zvoleného typu platby. O Průběhu zásilky Vás budeme informovat e-mailem.
Při nákupu většího množství produktů negarantujeme dodání do zobrazeného data

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
9 %

1887  Kč 2 076 Kč

Sleva až 70% u třetiny knih
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.
Autor:
Nakladatel: Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781461349693
Rok vydání: 2013
Jazyk : Angličtina
Vazba: Paperback / softback
Počet stran: 689
Mohlo by se vám také líbit..